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产品介绍： 霍尔效应的测量是研究半导体性质的实验法。利用霍尔系数和电导率的测量，用来确定半导体的导电类型和载流子浓度。通过测量霍尔系数与电导率随温度的变化，确定半导体的禁带宽度、杂质电离能及迁移率的温度系数等基本参数。 本仪器是利用电子和计算机数据采集系统，对霍尔样品在弱场条件下进行变温霍尔系数和电导率的测量，来确定半导体材料的性质。 变温霍尔效应实验仪是由电磁铁、可自动换向稳流源、恒温器、测温控温系统、数据采集及数据处理系统等组成。 产品特点： 1.可用范德堡法测量和标准法测量样品； 2.可手动测量和自动测量； 3.电流自动换向、磁测自动换向，电导和霍尔自动换向； 4.R1和R2自动测量。 规格参数： 电磁铁：0-400mT可调 励磁电源：0-6A可调，可自动换向 稳定性：＜±0.1% 数字特斯拉计：0-2000mT，四位半数字显示 恒流源输出：1μA-200mA连续可调 稳定性：±0.1% 数据采集系统霍尔电压测量范围：0-2000mV 数据采集系统霍尔电压分辨率：1uV 测温范围：80-450K 功率范围：200W 供电电源：AC 220V，50Hz 仪器配置： 测量仪器1台 电源控制和磁场测量仪1台 霍尔探头1台 恒温器1只 电磁铁1只 加热装置1只 软件1套 计算机1套
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